绝缘层电阻试验计算公式

绝缘层性能试验结果见表2.各项性能试验过程如下:

绝缘层间电阻试验.层间电阻是表征绝缘层性能的主要指标,是直接影响取向硅钢片使用性能的因素，层间电阻定义为每片试样单位面积所具有的电阻值(Q. cm2/片). 试样用Frank第2法单片层何电阻测试装置测定(GB2522-81).试样选用400 mmX 150 mm规格的硅钢片,测试压力为2.058X 10的6次方Pa,测试电压为0.5V,将测试结果代入(1)式计算出层间电阻.

      Rs= A(1/I-1)  (1)式中: Rs-层间电阻(9. cm'/片);A-- 10 个极头总面积(cm2);I一6点测试电流平均值(A)